Analisa pola difraksi sinar-x serbuk Ni dan Fe menggunakan metode rietveld GSAS

Oleh :
Tri Astuti - - Fak. MIPA

ABSTRAK Telah dilakukan analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni, Fe, dan NiFe dengan metode Rietveld GSAS. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni diperoleh nilai residunya Rp = 2,85 , Rwp = 4,50  dan 2 = 4,35 untuk 7 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material Fe diperoleh nilai residunya Rp =3,03 %, Rwp = 3,96  dan 2 = 2,28 untuk 6 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk NiFe diperoleh nilai residunya Rp = 2,74 , Rwp = 4,11  dan 2 = 3,23 untuk 10 variabel. Kata kunci: difraksi sinar-X, metode Rietveld, GSAS, NiFe.