Analisa pola – pola difraksi sinar-x pada material serbuk Nd6Fe13Sn, NdFe613Ge dan Nd6FeSi menggunakan metode Rietveld GSAS

Oleh :
Siti Wijayanti - M0202043 - Fak. MIPA

ABSTRAK Telah dibuat perangkat lunak untuk mengubah format data keluaran XRD (X-Ray Diffraction) Shimadzu 6000 sesuai dengan format data masukan GSAS (General Structure Analysis System) menggunakan bahasa pemrograman Free Pascal versi 2.0.2. Analisa pola difraksi sinar-X pada material Nd6Fe13Sn, Nd6FeGe dan Nd6Fe13Si dengan metode Rietveld GSAS dilakukan secara tidak simultan. Setelah penghalusan parameter – parameter disimpulkan struktur kristalnya tetragonal dan diperoleh nilai residu serta konstanta kisi. Material Nd6FeSi nilai residunya Rp = 1,21%, Rwp = 1,57% dan c213 = 1,984 untuk 10 variabel dan konstanta kisi a = 8,0528(28) Å dan c = 22,812(7) Å. Material Nd6FeGe nilai esidunya Rp = 1,29%, Rwp2 = 1,74% dan c13 = 3,958 untuk 9 variabel dan konstanta kisi a = 8,0588(10) Å dan c = 22,889(4) Å. Material Nd Rp = 1,74%, Rwp2 = 2,30% dan c6Fe13Sn nilai residunya = 8,989 untuk 10 variabel dan konstanta kisi a = 8,0941(5) Å dan c = 23,3894(25) Å.