Penelitian ini mengkaji tentang modifikasi magneto impedansi (MI) pada
perubahan struktur deposisi [NiFe/Cu/NiFe]N//Cu//[NiFe/Cu/NiFe]N untuk N = 1,
2, 3, dan 4 dan pengaruh ketebalan NiFe (300nm, 400nm, 500nm, 600nm, dan
700nm) untuk deteksi nanopartikel CFO. Penelitan ini menggunakan proses
elektrodeposisi dengan rapat arus untuk deposisi NiFe sebesar 15,5mA /cm 2 dan 8
mA/cm2 untuk deposisi Cu. Substrat Printed Circuit Board (PCB) Cu meander
digunakan sebagai pola geometri karena memiliki mutual induktasi yang besar
sehingga efek MI lebih terlihat. Penelitian ini berfokus pada frekuensi rendah
yaitu 100 kHz dan mengutamakan terjadinya efek MI karena perubahan medan
magnet eksternal 0 - 70mT. Hasil yang didapatkan dari penelitan ini adalah efek
MI paling besar 3,08% pada N = 2 dan ketebalan NiFe sebesar 400nm. Kinerja
sensor nanopartikel terlihat jelas pada konsentrasi 50.000 ppm dengan selisih
rasio MI sebesar 0,40% dan selisih rasio reaktansi sebesar 3,85%.