Penelitian ini mengkaji tentang modifikasi magneto impedansi (MI) padaperubahan struktur deposisi [NiFe/Cu/NiFe]N//Cu//[NiFe/Cu/NiFe]N untuk N = 1,2, 3, dan 4 dan pengaruh ketebalan NiFe (300nm, 400nm, 500nm, 600nm, dan700nm) untuk deteksi nanopartikel CFO. Penelitan ini menggunakan proseselektrodeposisi dengan rapat arus untuk deposisi NiFe sebesar 15,5mA /cm 2 dan 8mA/cm2 untuk deposisi Cu. Substrat Printed Circuit Board (PCB) Cu meanderdigunakan sebagai pola geometri karena memiliki mutual induktasi yang besarsehingga efek MI lebih terlihat. Penelitian ini berfokus pada frekuensi rendahyaitu 100 kHz dan mengutamakan terjadinya efek MI karena perubahan medanmagnet eksternal 0 - 70mT. Hasil yang didapatkan dari penelitan ini adalah efekMI paling besar 3,08% pada N = 2 dan ketebalan NiFe sebesar 400nm. Kinerjasensor nanopartikel terlihat jelas pada konsentrasi 50.000 ppm dengan selisihrasio MI sebesar 0,40?n selisih rasio reaktansi sebesar 3,85%.