ANALISA POLA DIFRAKSI SINAR-X SERBUK Ni DAN Fe MENGGUNAKAN  METODE RIETVELD GSAS

ASTUTI, TRI

× ABSTRAK Telah dilakukan analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni, Fe, dan NiFe dengan metode Rietveld GSAS. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni diperoleh nilai residunya Rp = 3,75 , Rwp = 5,79  dan 2 = 4,86 untuk 7 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material Fe diperoleh nilai residunya Rp =3,03 %, Rwp = 3,96  dan 2 = 2,28 untuk 6 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk NiFe diperoleh nilai residunya Rp = 2,74 , Rwp = 4,11  dan 2 = 3,23 untuk 10 variabel. Kata kunci: difraksi sinar-X, metode Rietveld, GSAS, NiFe.

×

Penulis Utama	:	TRI ASTUTI
Penulis Tambahan	:	-
NIM / NIP	:	M0203012
Tahun	:	2009
Judul	:	ANALISA POLA DIFRAKSI SINAR-X SERBUK Ni DAN Fe MENGGUNAKAN METODE RIETVELD GSAS
Edisi	:
Imprint	:	Surakarta - FMIPA - 2009
Program Studi	:	S-1 Fisika
Kolasi	:
Sumber	:
Kata Kunci	:
Jenis Dokumen	:	Skripsi
ISSN	:
ISBN	:
Link DOI / Jurnal	:	-
Status	:	Public
Pembimbing	:	1. Drs. Suharyana, M.Sc, Ph.D 2. Kusumandari, M.Si.
Penguji	:
Catatan Umum	:
Fakultas	:

×

File	:	Harus menjadi member dan login terlebih dahulu untuk bisa download.