Analisa pola difraksi sinar-x serbuk Ni dan Fe menggunakan metode rietveld GSAS

Penulis Utama : Tri Astuti
NIM / NIP :
× ABSTRAK Telah dilakukan analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni, Fe, dan NiFe dengan metode Rietveld GSAS. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni diperoleh nilai residunya Rp = 2,85 , Rwp = 4,50  dan 2 = 4,35 untuk 7 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material Fe diperoleh nilai residunya Rp =3,03 %, Rwp = 3,96  dan 2 = 2,28 untuk 6 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk NiFe diperoleh nilai residunya Rp = 2,74 , Rwp = 4,11  dan 2 = 3,23 untuk 10 variabel. Kata kunci: difraksi sinar-X, metode Rietveld, GSAS, NiFe.
×
Penulis Utama : Tri Astuti
Penulis Tambahan : -
NIM / NIP :
Tahun : 2009
Judul : Analisa pola difraksi sinar-x serbuk Ni dan Fe menggunakan metode rietveld GSAS
Edisi :
Imprint : Surakarta - FMIPA - 2009
Program Studi : -
Kolasi : xiv, 26 hal.
Sumber : UNS-FMIPA Jur. Fisika-M.0203012-2009
Kata Kunci :
Jenis Dokumen : Skripsi
ISSN :
ISBN :
Link DOI / Jurnal : -
Status : Public
Pembimbing : 1. Drs. Suharyana, M.Sc, Ph.D
2. Kusumandari, M.Si
Penguji :
Catatan Umum : 1274/2009
Fakultas : Fak. MIPA
×
File : Harus menjadi member dan login terlebih dahulu untuk bisa download.