| Penulis Utama | : | Tri Astuti |
| NIM / NIP | : |
ABSTRAK Telah dilakukan analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni, Fe, dan NiFe dengan metode Rietveld GSAS. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk Ni diperoleh nilai residunya Rp = 2,85 , Rwp = 4,50 dan 2 = 4,35 untuk 7 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material Fe diperoleh nilai residunya Rp =3,03 %, Rwp = 3,96 dan 2 = 2,28 untuk 6 variabel. Analisa pola difraksi sinar-X pada material serbuk NiFe diperoleh nilai residunya Rp = 2,74 , Rwp = 4,11 dan 2 = 3,23 untuk 10 variabel. Kata kunci: difraksi sinar-X, metode Rietveld, GSAS, NiFe.
| Penulis Utama | : | Tri Astuti |
| Penulis Tambahan | : | - |
| NIM / NIP | : | |
| Tahun | : | 2009 |
| Judul | : | Analisa pola difraksi sinar-x serbuk Ni dan Fe menggunakan metode rietveld GSAS |
| Edisi | : | |
| Imprint | : | Surakarta - FMIPA - 2009 |
| Program Studi | : | - |
| Kolasi | : | xiv, 26 hal. |
| Sumber | : | UNS-FMIPA Jur. Fisika-M.0203012-2009 |
| Kata Kunci | : | |
| Jenis Dokumen | : | Skripsi |
| ISSN | : | |
| ISBN | : | |
| Link DOI / Jurnal | : | - |
| Status | : | Public |
| Pembimbing | : |
1. Drs. Suharyana, M.Sc, Ph.D 2. Kusumandari, M.Si |
| Penguji | : | |
| Catatan Umum | : | 1274/2009 |
| Fakultas | : | Fak. MIPA |
| File | : | Harus menjadi member dan login terlebih dahulu untuk bisa download. |
|---|
