STUDI KARAKTERISTIK  DIFRAKTOMETER SINAR-X SHIMADZU-6000 DENGAN CUPLIKAN SERBUK SILIKON

Safitri, Arum

× INTISARI STUDI KARAKTERISTIK DIFRAKTOMETER SINAR-X SHIMADZU-6000 DENGAN CUPLIKAN SERBUK SILIKON Oleh Arum Safitri M.0203001 Dalam penelitian ini telah dilakukan studi karakteristik difraktometer sinar-X Shimadzu-6000 dengan cuplikan serbuk silikon yang mempunyai struktur intan atau kubus pusat muka. Karakteristik yang dipelajari meliputi pemilihan pasangan slit, keakuratan, ralat sistematis, resolusi, kalibrasi dan parameter instrumen. Keakuratan difraktometer ditentukan dengan analisis regresi linear dan koefisien korelasi. Hasil analisis menunjukkan bahwa pasangan divergen slit 1o dan scattering slit 1o serta receiving slit 0,15 mm mempunyai keakuratan yang paling tinggi yaitu sebesar 90,39% dengan kesalahan 9,61%. Ralat sistematis ditentukan dengan membandingkan posisi puncak 2θ pasangan divergen slit 1o dan scattering slit 1o serta receiving slit 0,15 mm dengan pasangan slit yang lain. Hasil analisis menunjukkan ralat sistematis untuk pasangan divergen slit, scattering slit dan receiving slit (0,5o; 0,5o; 0,3 mm), (0,5o; 0,5o; 0,15 mm ) dan (2o; 2o; 0,15 mm) sebesar -0,04o. Sedangkan untuk pasangan (1o; 1o; 0,3 mm) dan (2o; 2o; 0,3 mm) masing-masing sebesar 0o dan 0,02o. Hasil ini menunjukkan bahwa difraktometer sinar-X Shimadzu-6000 perlu dikalibrasi. Resolusi difraktometer dinyatakan dengan lebar setengah tinggi maksimum. Difraktometer sinar–X Shimadzu-6000 yang ada di Sub Lab Fisika UPT Laboratorium Pusat MIPA UNS mempunyai resolusi sebesar . Parameter instrumen difraktometer sinar-X Shimadzu-6000 ditentukan dengan metode Rietveld GSAS. Dengan metode ini dilakukan penghalusan parameter background, konstanta kisi, titik nol difraktometer dan fungsi profil puncak. Fungsi profil puncak yang digunakan adalah Pseudo-Voigt. Dari hasil penghalusan diperoleh parameter instrumen GU, GV, GW, LX dan LY untuk DS = SS = 0,5o, RS = 0,3 mm adalah (0; 5,231; 16,970; 5,171; 0) dan (0; 1,438; 20,832; 5,185; 0) untuk DS = SS = 1o, RS = 0,3 mm, serta (0; -11,870; 36,704; 5,177; 0) untuk DS = SS = 2o,RS = 0,3 mm. Sedangkan untuk DS = SS = 0,5o, RS = 0,15 mm diperoleh parameter instrumen (0; 4,299; 13,456; 5,552; 0) serta (0; 8,049; 13,007; 5,020; 0) untuk DS = SS = 1o, RS = 0,15 mm dan (0; -11,349; 32,860; 4,797; 0) untuk DS = SS = 2o, RS = 0,15 mm. Kata kunci: Difraktometer sinar-X Shimadzu-6000, silikon, metode Rietveld GSAS

×

Penulis Utama	:	Arum Safitri
Penulis Tambahan	:	-
NIM / NIP	:	M0203001
Tahun	:	2007
Judul	:	STUDI KARAKTERISTIK DIFRAKTOMETER SINAR-X SHIMADZU-6000 DENGAN CUPLIKAN SERBUK SILIKON
Edisi	:
Imprint	:	Surakarta - FMIPA - 2007
Program Studi	:	S-1 Fisika
Kolasi	:
Sumber	:	UNS-FMIPA JURUSAN FISIKA
Kata Kunci	:
Jenis Dokumen	:	Skripsi
ISSN	:
ISBN	:
Link DOI / Jurnal	:	-
Status	:	Public
Pembimbing	:
Penguji	:
Catatan Umum	:
Fakultas	:

×

File	:	Harus menjadi member dan login terlebih dahulu untuk bisa download.